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PID测试系统
ME-PV-PID
什么是潜在诱导退化(PID)测试?
电位诱导衰减(PID)已被确定为影响硅太阳能电池组件可靠性的严重问题,晶体硅和薄膜PV组件都容易受到PID的影响。在并网PV系统中,电池板通常串联连接以产生高压输出,而出于电气安全原因,模块框架接地。然而,这种结构会在模块内的太阳能电池和模块框架之间产生高电位差。高电位差可能导致漏电流从模块框架流向太阳能电池,这会导致PID。
PID会受到许多因素的影响,例如抗反射涂层、封装材料、模块结构和系统的性质。周围环境条件(例如温度、光强度或湿度)也会影响退化程度。
PID测试是为光伏组件进行质量保证测试,以预测它们在不同条件下长时间的性能。将组件置于85°C的温度下,湿度约为85%,并在1000v负载下持续96小时。PID测试模拟组件暴露在的次电压和温度条件下的功率损耗。
ME-PV-PID的功能特点
♦ 组件边框端接地,既模拟实际情况,又防止了测试过程中由于边框高压引起的潜在危险
♦ 对于每块组件,高压线通过接线盒与组件内部连在一起,接地线与边框连在一起或连接在其他有效位置
♦ 各通道相互独立,多路电压大小、极性、时间单独设置
♦ 多路电压、泄露电流、绝缘电阻同时显示
♦ 实时监控电压、泄露电流、绝缘电阻曲线
♦ 屏幕显示测试情况,记录测试中数据
♦ 所有监控数据可导出Excel、CSV、等格式文件
♦ 可输入组件序列号、测试时间段、测试名称查询历史数据及曲线
♦ 报警参数单独设置,如过流报警、欠压报警
电压范围:-2500~2500V
电压精度:0.1%FS
电压分辨率:1V
电流能力:1mA
测试范围:-1~1mA
测试精度:0.5%FS
分辨率:0.001mA
支持RS485通讯,支持0-5V、0-10V、4-20mA信号输入
14位分辨率
20路模拟量输入
T/C软件组态,低电压电流输入
支持Modbus/RTU控制
内存:8G DDR
硬盘:1T
显示器:23英寸显示器
材质:硅胶
耐压等级:25KV
芯径:0.5mm²,多股铜丝
工作温度:-60-250℃
外径:5.8mm
长度:标配6m/套
温度范围:-40-120℃
精度:±1℃
湿度范围:0-100%RH
精度:±3%RH
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