量子效率测试仪
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Sinton硅片少子寿命测试仪
Sinton硅块少子寿命测试仪
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无人机EL检测仪
Sinton硅片少子寿命测试仪
WCT-120+Suns-Voc
WCT-120的主要功能
QSSPC技术对于监测多晶硅硅片,掺杂剂的扩散,和低寿命样本是理想的技术。这种方法补充了瞬态光电导技术的运用。QSSPC寿命测量也产生隐含的开路电压(与lllumination)曲线,这可以与an1-v曲线在太阳能电池过程的各个阶段进行比较。单击即可锁定晶硅片的关键参数,包括方块电阻、少子寿命、陷阱密度、发射极饱和电流密度和暗电压。
▷ 监测原始材料的质量,对其进行等级分类。
▷ 评估表面和发射极掺杂扩散。
▷ 制造工艺的监控和优化。
Suns-Voc的强大应用
Suns-Voc 的应用:可以通过直接探测p+和n+区域或探测金属化层(如果有)来测量光照强度-开路电压曲线。该曲线可显示成我们熟知的Suns-Voc曲线,或以标准光伏曲线的形式呈现,可以借此对并联电阻进行表征。整条曲线数据是在开路条件下测量获得,因此不受串联电阻的影响。将该曲线与最终的I-V曲线进行比较,可以准确获得电池中的串联电阻。
▷ 监控并优化电池片的正面浆料印刷工艺。
▷ 获得电池片的J01,J02,Rshunt.等参数。
▷ 提供太阳能电池片在加工过程中能够得到的最大IV参数。
量测得到硅片样品在注入浓度下的复合少子寿命值Tau@Δn;
量测得到硅片样品的电阻率Resistivity;
量测得到硅片样品的陷阱密度Trap density;
量测得到硅片样品发射极饱和电流密度J0。
量测获得太阳能电池片不同辐照度下的开路电压;
获得太阳能电池的双二极管模型参数J01,J02,Rshunt,以及电池片的理想因子等;
量测形成PN结后的样品在不同辐照强度下的开路电压值以及通过内建模型计算出样品的最大IV特性参数,最大Teff,最大FF等。同时可以通过计算获得电池片的串联电阻值Rs。
氙灯并带有全套中性滤光片,光源高度可调节以便调整最佳辐照强度,得到去除串联电阻的电池片理想IV参数。
快速交付与全面支持
通过现场操作指导和售后技术支持,为客户提供从产品到生产线运行的全程支持。