量子效率测试仪
PL/EL一体机
Sinton硅片少子寿命测试仪
Sinton硅块少子寿命测试仪
绒面反射率测试仪
3D共聚焦显微镜
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在线四探针方阻测试仪
全自动扫描四探针方阻测试仪
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霍尔效应测试仪
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二极管接线盒综合测试仪
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钙钛矿在线膜厚测试仪
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便携式EL测试仪
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户外组件多通道测试系统
光伏逆变器电能质量测试仪
无人机EL检测仪
Sinton硅块少子寿命测试仪
BCT-400
BCT400/BLS-1少子寿命测试仪
硅块表征的最优选择
▷ 操作简单、灵敏度高
BCT-400测量系统对于单晶硅或多晶硅(硅锭或硅块)不需要进行表面钝化就可以进行寿命测量。因为寿命测量是描述生长特征和污染缺陷灵敏度先进的技术,这些工具允许你评估硅生长后的质量。
▷ 性能优越
非接触方式量测真正意义上的硅块少子寿命,符合SEMI的PV13标准;相比业界其他少子寿命测试仪BLS-I/BCT系列是性能更优越的少子寿命测试仪。。
▷ 多型号选择
如果想要设备能够测量多种的表面类型(150mm直径到平滑的)请选BLS-1.如果是仅需要测量平滑表面,请选择BCT-400。
BCT400/BLS-1应用
厂商品质监控常见的测量设备,拥有广泛客户群
• 测量寿命在1-5ms(豪秒)范围内的高纯度硅
• 测量没有进行特殊表面处理的原生直拉硅
• 测量多晶硅块的寿命和俘获浓度
• 探测氧化硼缺陷,铁污染,和表面损害
• 测试直拉硅,区熔硅,多晶硅或高纯冶金硅的初始原料质量
1、少子寿命;
2、电阻率;
3、陷阱密度。
1、表面为平的硅块样品(BCT-400);
2、表面不平整的硅块样品(BLS-I);
3、不平整弧度的直径可达150mm。
1、准稳态方法少子寿命分析;
2、瞬态方法少子寿命分析;
3、一般方法少子寿命分析。
快速交付与全面支持
通过现场操作指导和售后技术支持,为客户提供从产品到生产线运行的全程支持。